2015年7月11日のTOEIC公開テスト、カリフォルニア州サンフランシスコのEmbassy CESにて受験しました。（7月26日の公開テストの難易度と感想はこちら 「第202回TOEIC公開テスト 難易度と感想」です）
私にとってはじめての日本国外での受験で、マークシート形式の違いやシャープペン禁止等、慣れない点が多く、国外で受験される方は注意が必要だと感じました。
パート毎の感想（難易度）は以下の通りです。
Part 1: 普通
Part 2: やや易
Part 3: やや易
Part 4: 普通
Part 5: 普通
Part 6: 普通
Part 7: やや難
※ 難易度は 易・やや易・普通・やや難・難 の５段階評価です。
相澤自身の本日の時間配分は、以下のとおりでした。
Part 5 11:15〜11:30 15分
Part 6 11:30〜11:37 7分
Part 7 11:37〜12:30 53分
当日朝移動のため２時間運転してからの受験だったため、正直言うとリーディング最後で力尽きた感がありました（眠かった！）。公開テストでもIPテストでも、普段そんな状況で受けることはないので、これはこれで良い体験です。
出題傾向としては、３年前のTOEICテストに近いイメージ。直近の日本の公開テストと比べると、すこし簡単だと感じました。Part 1で人物の写っていない写真は1つ。Part 2のWH疑問文は14問（通常通り）。Part 6の文脈型問題は6問（通常通り）。Part 7のNOT問題は3問、照合問題（What is indicated about〜?というタイプ）は12問でした（やや少なめ）。
米国TOEIC公開テストを受験する際の注意点などは、改めて別にまとめたいと思います。個人的に困ったのは、最初に書いたマークシート形式の違い。日本では20問単位でまとめられ、20問×5列のマークシートですが、米国では25問単位、25問×4列でした。普段の習慣とは怖いもので、Part 2の21〜23番を26〜28番の場所に記入していました。3問で気がついたのでよかったですが、そうでなければかなりの痛手でした。
あとはデスクの大きさ。イス付属のメモ書き用デスク（といって伝わりますか？）で問題用紙を広げてマークシートに記入するのは「それはないでしょ！」というレベルだと思います。会場による違いもあるでしょうから一概には言えませんが、これは要注意ですね。
そんなわけで、私は今月2回公開テストを受けることとなりましたが、今週末のテストも頑張りましょう！
